SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
标准编号：SJ/T 11703-2018
标准名称：数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
语 言：简体中文版、英文版
发布日期： 实施日期：
标准状态：现行
标准介绍：【SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法】本标准规定了在数字微电子器件封装引出端之间，测试宽带数字信号和噪声交叉耦合水平的方法。
本标准适用于数字微电子器件封装。当驱动和负载阻抗已知时，适用于多种逻辑系列产品。
标准类别：SJ电子标准
授权方式：免费下载
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标准关注次数：
添加日期：2018-03-21 13:00:38
相关查询：微电子 封装 器件 特性 数字 测试 方法
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更新时间：2018-03-21 13:00:38
