SJ/T 11767-2020
现行
标准简介及适用范围
SJ/T 11767-2020《二极管低频噪声参数测试方法》标准规定了二极管低频噪声参数测试方法必须具备的国家强制标准，2021-04-01开始实施，起草单位为：工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等。
适用于二极管1 Hz～300 kHz 频率范围内的噪声参数的测试
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| SJ/T 11768-2020 | 电阻器低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11769-2020 | 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求 | 现行 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11761-2020 | 200mm及以下晶圆用半导体设备装载端口规范 | 现行 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11766-2020 | 光电耦合器件低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11758-2020 | 液晶显示背光组件用LED芯片性能规范 | 现行 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11765-2020 | 晶体管低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2021-04-01 |
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