SJ/T 11765-2020
现行
标准简介及适用范围
SJ/T 11765-2020《晶体管低频噪声参数测试方法》标准规定了晶体管低频噪声参数测试方法必须具备的国家强制标准，2021-04-01开始实施，起草单位为：工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学等。
适用于双极型晶体管与场效应晶体管，其他晶体管产品可参照执行
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| SJ/T 11758-2020 | 液晶显示背光组件用LED芯片性能规范 | 现行 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11766-2020 | 光电耦合器件低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11767-2020 | 二极管低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11772-2020 | 企业上云效果评价 | 现行 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11771-2020 | 绿色设计产品评价技术规范 电视机 | 现行 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11770-2020 | 绿色设计产品评价技术规范 微型计算机 | 现行 | 2021-04-01 |
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