SJ/T 11766-2020
现行
标准简介及适用范围
SJ/T 11766-2020《光电耦合器件低频噪声参数测试方法》标准规定了光电耦合器件低频噪声参数测试方法必须具备的国家强制标准，2021-04-01开始实施，起草单位为：工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等。
适用于光电耦合器件1 Hz～300 kHz 频率范围内噪声参数的测试
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| SJ/T 11767-2020 | 二极管低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11768-2020 | 电阻器低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11769-2020 | 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求 | 现行 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11758-2020 | 液晶显示背光组件用LED芯片性能规范 | 现行 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11765-2020 | 晶体管低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11772-2020 | 企业上云效果评价 | 现行 | 2021-04-01 |
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