SJ/T 11705-2018 微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法-行业标准标准

SJ/T 11705-2018

现行

标准号 SJ/T 11705-2018

标准名称微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法

发布日期 2018-02-09

实施日期 2018-04-01

归口单位全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会

主管部门工业和信息化部

行业分类信息传输、软件和信息技术服务业

标准类别无

制定/修订制定

备案号 63630-2018

国际标准分类号

中国标准分类号

代替标准

起草单位中国电子技术标准化研究院、航天电子科技集团公司第七七二研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所等

起草人安琪、林建京、张崤君等

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SJ/T 11705-2018《微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法》标准规定了微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法必须具备的国家强制标准，2018-04-01开始实施，起草单位为：中国电子技术标准化研究院、航天电子科技集团公司第七七二研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所等。

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