SJ/T 11487-2015
现行
标准简介及适用范围
SJ/T 11487-2015《半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法》标准规定了半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法必须具备的国家强制标准，2015-10-01开始实施，起草单位为：信息产业专用材料质量监督检验中心、工业和信息化部电子工业标准化研究院、苏州晶瑞化学有限公司等。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| SJ/T 11492-2015 | 光致发光法测定磷镓砷晶片的组分 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11528-2015 | 信息技术 移动存储 存储卡通用规范 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11504-2015 | 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11340-2015 | 前投影机通用规范 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11484-2015 | 掺铝氧化锌型透明导电氧化物玻璃 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11500-2015 | 碳化硅单晶晶向的测试方法 | 现行 | 2015-10-01 |
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