SJ/T 11504-2015
现行
标准简介及适用范围
SJ/T 11504-2015《碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法》标准规定了碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法必须具备的国家强制标准，2015-10-01开始实施，起草单位为：中国电子科技集团公司第四十六研究所、工业和信息化部电子工业标准化研究院。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| SJ/T 11488-2015 | 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法 | 现行 | 2015-10-01 |
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| SJ/T 11486-2015 | 小功率LED芯片技术规范 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11528-2015 | 信息技术 移动存储 存储卡通用规范 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11492-2015 | 光致发光法测定磷镓砷晶片的组分 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11487-2015 | 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 | 现行 | 2015-10-01 |
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