SJ/T 11500-2015
现行
标准简介及适用范围
SJ/T 11500-2015《碳化硅单晶晶向的测试方法》标准规定了碳化硅单晶晶向的测试方法必须具备的国家强制标准,2015-10-01开始实施,起草单位为:中国电子科技集团公司第四十六研究所、工业和信息化部电子工业标准化研究院。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| SJ/T 11484-2015 | 掺铝氧化锌型透明导电氧化物玻璃 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11340-2015 | 前投影机通用规范 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11487-2015 | 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11532.2-2015 | 危险化学品气瓶标识用电子标签通用技术要求 第2部分:应用技术规范 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11515-2015 | 等离子显示器用无铅玻璃粉 | 废止 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11520.8.4-2015 | 同轴通信电缆 第8-4部分:50-141 型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔电缆详细规范 | 现行 | 2015-10-01 |
用户评价
暂无用户评价。您可以发表对本标准的看法:
专家解读