GB/T 6621-2009
现行
标准号 GB/T 6621-2009
标准名称 硅片表面平整度测试方法
英文名称 Testing methods for surface flatness of silicon slices
发布日期 2009-10-30
实施日期 2010-06-01
标准状态 现行
归口单位 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管单位 国家标准委
标准类别 方法
国际标准分类号 29.045
中国标准分类号 H80
起草单位 上海合晶硅材料有限公司
起草人 徐新华 、严世权 、王珍
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标准简介

GB/T 6621-2009《硅片表面平整度测试方法》标准规定了硅片表面平整度测试方法必须具备的国家强制标准,2010-06-01开始实施,起草单位为:上海合晶硅材料有限公司。

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