GB/T 13387-2009
现行
标准号 GB/T 13387-2009
标准名称 硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法
英文名称 Test method for measuring flat length wafers of silicon and other electronic materials
发布日期 2009-10-30
实施日期 2010-06-01
标准状态 现行
归口单位 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管单位 国家标准委
标准类别 方法
国际标准分类号 29.045
中国标准分类号 H80
起草单位 有研半导体材料股份有限公司
起草人 杜娟 、孙燕 、卢立延
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标准简介

GB/T 13387-2009《硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法》标准规定了硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法必须具备的国家强制标准,2010-06-01开始实施,起草单位为:有研半导体材料股份有限公司。

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