GB/T 13387-2009
现行
标准简介
GB/T 13387-2009《硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法》标准规定了硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法必须具备的国家强制标准,2010-06-01开始实施,起草单位为:有研半导体材料股份有限公司。
相关标准
本标准相关标准:
-
20256097-T-469 面齿轮 几何与测量 第3部分:精度及其他项目测量方法 20256849-T-469 电子封装用薄膜材料面内热扩散系数的测定 闪光法 GB/T 34893-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法 20194111-T-339 声表面波器件用单晶晶片 规范与测量方法 20250515-T-469 微米级长度的扫描电镜测量方法通则 DB65/T 4167-2018 羊毛及其他动物纤维平均直径、长度与分布试验方法 全天候细度长度快速检测一体仪测定法 SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 SJ/T 10481-1994 硅外延层电阻率的面接触三探针方法 20262157-T-605 硅基负极材料用多孔炭 20261802-T-339 地面数字电视硅调谐器技术要求和测量方法
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| GB/T 24535-2009 | 粮油检验 稻谷粒型检验方法 | 现行 | 2009-12-01 |
| GB/T 24501.2-2009 | 小麦条锈病、吸浆虫防治技术规范 第2部分:小麦吸浆虫 | 现行 | 2009-12-01 |
| GB/T 24534.2-2009 | 谷物与豆类隐蔽性昆虫感染的测定 第2部分:取样 | 现行 | 2009-12-01 |
| GB/T 13388-2009 | 硅片参考面结晶学取向X射线测试方法 | 现行 | 2010-06-01 |
| GB/T 14144-2009 | 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法 | 现行 | 2010-06-01 |
| GB/T 223.83-2009 | 钢铁及合金 高硫含量的测定 感应炉燃烧后红外吸收法 | 现行 | 2010-05-01 |
用户评价
暂无用户评价。您可以发表对本标准的看法:
专家解读