SJ/T 11499-2015
废止
标准简介及适用范围
SJ/T 11499-2015《碳化硅单晶电学性能的测试方法》标准规定了碳化硅单晶电学性能的测试方法必须具备的国家强制标准，2015-10-01开始实施，起草单位为：中国电子科技集团公司第四十六研究所、工业和信息化部电子工业标准化研究院。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| SJ/T 11493-2015 | 硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法 | 废止 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11517-2015 | 电子工业用气体 一氧化碳 | 废止 | 2015-10-01 |
| SJ/T 10464-2015 | 电容器用金属化聚丙烯薄膜 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11439-2015 | 信息技术 面阵式二维码识读引擎通用规范 | 现行 | 2016-04-01 |
| SJ/T 11556-2015 | 用原子吸收光谱测定硝酸溶剂中银、金、钙、铜、铁、钾和钠的含量 | 现行 | 2016-04-01 |
| SJ/T 2658.6-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第6部分：辐射功率 | 现行 | 2016-04-01 |
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