SJ/T 2214-2015
现行
标准简介及适用范围
SJ/T 2214-2015《半导体光电二极管和光电晶体管测试方法》标准规定了半导体光电二极管和光电晶体管测试方法必须具备的国家强制标准，2015-10-01开始实施，起草单位为：中电子科技集团公第四十四研究所。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| SJ/T 11310.2-2015 | 信息设备资源共享协同服务 第2部分：应用框架 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 2354-2015 | ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11497-2015 | 砷化镓晶片热稳定性的试验方法 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11534-2015 | 微波电路用覆铜箔聚四氟乙烯玻纤布层压板 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11523-2015 | 线阵列扬声器系统用音箱性能测试方法 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11506-2015 | 集成电路用 铝腐蚀液 | 现行 | 2015-10-01 |
用户评价
暂无用户评价。您可以发表对本标准的看法：
专家解读