SJ/T 2354-2015
现行
标准简介及适用范围
SJ/T 2354-2015《ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法》标准规定了ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法必须具备的国家强制标准，2015-10-01开始实施，起草单位为：中电子科技集团公第四十四研究所。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| SJ/T 11497-2015 | 砷化镓晶片热稳定性的试验方法 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11489-2015 | 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11505-2015 | 蓝宝石单晶抛光片规范 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11310.2-2015 | 信息设备资源共享协同服务 第2部分：应用框架 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 2214-2015 | 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11534-2015 | 微波电路用覆铜箔聚四氟乙烯玻纤布层压板 | 现行 | 2015-10-01 |
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