SJ/T 11490-2015
现行
标准简介及适用范围
SJ/T 11490-2015《低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法》标准规定了低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法必须具备的国家强制标准，2015-10-01开始实施，起草单位为：信息产业专用材料质量监督检验中心、工业和信息化部电子工业标准化研究院、苏州晶瑞化学有限公司等。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| SJ/T 11530-2015 | 信息技术 开关型电源适配器通用规范 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 2215-2015 | 半导体光电耦合器测试方法 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11501-2015 | 碳化硅单晶晶型的测试方法 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11509-2015 | 液晶显示器用 ITO腐蚀液 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11520.8.8-2015 | 同轴通信电缆 第8-8部分：75-141 型聚四氟乙烯（PTFE）绝缘半柔电缆详细规范 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11516-2015 | 薄膜晶体管（TFT）用掩模版规范 | 现行 | 2015-10-01 |
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