SJ/T 11501-2015
现行
标准简介及适用范围
SJ/T 11501-2015《碳化硅单晶晶型的测试方法》标准规定了碳化硅单晶晶型的测试方法必须具备的国家强制标准，2015-10-01开始实施，起草单位为：中国电子科技集团公司第四十六研究所、工业和信息化部电子工业标准化研究院。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| SJ/T 11378.7-2015 | 等离子体显示器件 第7部分：数字电视机用等离子体显示器件可靠性试验方法 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11520.8.2-2015 | 同轴通信电缆 第8-2部分：50-047型聚四氟乙烯（PTFE）绝缘半柔电缆详细规范 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11520.8.9-2015 | 同轴通信电缆 第8-9部分：75-250 型聚四氟乙烯（PTFE）绝缘半柔电缆详细规范 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 2215-2015 | 半导体光电耦合器测试方法 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11530-2015 | 信息技术 开关型电源适配器通用规范 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11490-2015 | 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法 | 现行 | 2015-10-01 |
用户评价
暂无用户评价。您可以发表对本标准的看法：
专家解读