SJ/T 11494-2015
现行
标准简介及适用范围
SJ/T 11494-2015《硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法》标准规定了硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法必须具备的国家强制标准，2015-10-01开始实施，起草单位为：信息产业专用材料质量监督检验中心、工业和信息化部电子工业标准化研究院、苏州晶瑞化学有限公司等。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| SJ/T 11502-2015 | 碳化硅单晶抛光片规范 | 废止 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11460.2-2014 | 液晶显示用背光组件 第2部分：CCFL背光组件空白详细规范 | 现行 | 2015-04-01 |
| SJ/T 1563-2014 | 实心聚四氟乙烯绝缘同轴射频电缆 | 现行 | 2015-04-01 |
| SJ/T 11533-2015 | 24针点阵式打印头通用规范 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11511-2015 | 液晶显示器用 正胶显影液 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11519-2015 | 电子连接用镀锡铜线规范 | 现行 | 2015-10-01 |
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