GB/T 15873-1995
现行
标准简介
GB/T 15873-1995《半导体设施接口技术文件编写导则》标准规定了半导体设施接口技术文件编写导则必须具备的国家强制标准,1996-08-01开始实施,起草单位为:中国华晶电子集团公司。
相关标准
本标准相关标准:
-
JB/T 7059-1993 电力半导体模块标准编写导则 DL/T 847-2004 供电企业质量管理体系文件编写导则 JB/T 5883.6-1991 电控设备图样及技术文件 技术文件的编写规定 HB 8577-2020 民用飞机维修计划文件编写要求 QX/T 731—2024 气象观测质量管理体系 体系文件编写指南 KA/T 20.4-2024 非煤矿山建设项目安全设施设计编写提纲第4部分:尾矿库建设项目安全设施设计编写提纲 KA/T 20.6-2024 非煤矿山建设项目安全设施设计编写提纲第6部分:尾矿库闭库项目安全设施设计编写提纲 KA/T 20.2-2024 非煤矿山建设项目安全设施设计编写提纲第2部分:金属非金属露天矿山建设项目安全设施设计编写提纲 KA/T 20.5-2024 非煤矿山建设项目安全设施设计编写提纲第5部分:尾矿库建设项目安全设施重大变更设计编写提纲 YD/T 4608.1-2023 5G网络测试数据采集统一文件接口技术要求 第1部分:文件基本结构要求
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| GB/T 15868-1995 | 全球海上遇险与安全系统(CMDSS) 船用无线电设备和海上导航设备通用要求测试方法和要求的测试结果 | 现行 | 1996-08-01 |
| GB/T 2470-1995 | 电子设备用固定电阻器、固定电容器型号命名方法 | 现行 | 1996-08-01 |
| GB/T 15970.3-1995 | 金属和合金的腐蚀 应力腐蚀试验 第3部分:U型弯曲试样的制备和应用 | 现行 | 1996-06-01 |
| GB/T 6428-1995 | 氢闸流管测试方法 | 现行 | 1996-08-01 |
| GB/T 15870-1995 | 硬面光掩模用铬薄膜 | 现行 | 1996-08-01 |
| GB/T 15871-1995 | 硬面光掩模基板 | 现行 | 1996-08-01 |
用户评价
暂无用户评价。您可以发表对本标准的看法:
专家解读