YS/T 1754-2025
现行
标准简介及适用范围
YS/T 1754-2025《颗粒硅表面粉尘的测定 浊度法》标准规定了颗粒硅表面粉尘的测定 浊度法必须具备的国家强制标准，2025-11-01开始实施，起草单位为：。
适用于颗粒硅表面粉尘的测定，测定范围为0NTU～1000NTU。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| YS/T 1755-2025 | 颗粒硅总金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2025-11-01 |
| YS/T 447.2-2025 | 铝及铝合金晶粒细化用合金线材 第2部分：铝-钛-碳合金线材 | 现行 | 2025-11-01 |
| YS/T 447.3-2025 | 铝及铝合金晶粒细化用合金线材 第3部分：铝-钛合金线材 | 现行 | 2025-11-01 |
| YS/T 1753-2025 | 烧结金属多孔材料 氯化腐蚀性能的测定 | 现行 | 2025-11-01 |
| YS/T 1752-2025 | 硼及硼复合粉热值测定方法 | 现行 | 2025-11-01 |
| YS/T 1751-2025 | 铝基硼化钛粉化学分析方法 元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2025-11-01 |
用户评价
暂无用户评价。您可以发表对本标准的看法：
专家解读