YS/T 1768-2025
现行
标准简介及适用范围
YS/T 1768-2025《硅多晶生产用石墨制品表面杂质含量的测定 电感耦合等离子体光谱法》标准规定了硅多晶生产用石墨制品表面杂质含量的测定 电感耦合等离子体光谱法必须具备的国家强制标准，2025-11-01开始实施，起草单位为：。
适用于硅多晶生产用石墨制品中表面杂质元素含量的测定。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| YS/T 1769-2025 | 区熔锗锭安全生产规范 | 现行 | 2025-11-01 |
| YS/T 1770-2025 | 铪及铪合金高低倍组织检验方法 | 现行 | 2025-11-01 |
| YS/T 1774-2025 | 铜-钢复合金属复合质量及各向异性的检验 冲杯试验方法 | 现行 | 2025-11-01 |
| YS/T 1767-2025 | 亚硫酸金钠溶液 | 现行 | 2025-11-01 |
| YS/T 1766-2025 | 磷酸氢根四氨合铂 | 现行 | 2025-11-01 |
| YS/T 1765-2025 | 贵金属块矿 | 现行 | 2025-11-01 |
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