YS/T 38.3-2023
现行
标准简介及适用范围
YS/T 38.3-2023《高纯镓化学分析方法 第3部分：痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法》标准规定了高纯镓化学分析方法 第3部分：痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法必须具备的国家强制标准，2023-11-01开始实施，起草单位为：。
本文件适用于高纯镓中杂质元素含量的测定。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| YS/T 1601-2023 | 六氯乙硅烷中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2023-11-01 |
| YS/T 1602-2023 | 钼富集物 | 现行 | 2023-11-01 |
| YS/T 1603.1-2023 | 钨基高比重合金化学分析方法 第1部分：钨含量的测定 辛克宁重量法 | 现行 | 2023-11-01 |
| YS/T 1600-2023 | 碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2023-11-01 |
| YS/T 1599-2023 | 高纯锆化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2023-11-01 |
| YS/T 568.13-2023 | 氧化锆、氧化铪化学分析方法 第13部分：氧化铪中硼、钠、镁、铝、硅、钙、钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、锆、铌、钼、镉、锡、锑、钽、钨、铅、铋含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2023-11-01 |
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