YS/T 1160-2016
现行
标准简介及适用范围
YS/T 1160-2016《工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法》标准规定了工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法必须具备的国家强制标准，2017-01-01开始实施，起草单位为：。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| YS/T 630-2016 | 氧化铝化学分析方法 杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2017-01-01 |
| YS/T 1161.1-2016 | 拟薄水铝石分析方法 第1部分：胶溶指数的测定 EDTA容量法 | 现行 | 2017-01-01 |
| YS/T 1161.2-2016 | 拟薄水铝石分析方法 第2部分：烧失量的测定 重量法 | 现行 | 2017-01-01 |
| YS/T 1159-2016 | 镁锂合金板材 | 现行 | 2017-01-01 |
| YS/T 680-2016 | 铝合金建筑型材用粉末涂料 | 废止 | 2017-01-01 |
| YS/T 728-2016 | 铝合金建筑型材用丙烯酸电泳涂料 | 现行 | 2017-01-01 |
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