YS/T 679-2008
废止
标准简介及适用范围
YS/T 679-2008《非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法》标准规定了非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法必须具备的国家强制标准，2008-09-01开始实施，起草单位为：有研半导体材料股份有限公司。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| YS/T 568.1-2008 | 氧化锆、氧化铪化学分析方法 氧化锆和氧化铪合量的测定 苦杏仁酸重量法 | 现行 | 2008-09-01 |
| YS/T 568.8-2008 | 氧化锆、氧化铪化学分析方法 氧化锆中铝、钙、镁、锰、钠、镍、铁、钛、锌、钼、钒、铪量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 | 现行 | 2008-09-01 |
| YS/T 244.7-2008 | 高纯铝化学分析方法 第7部分：二硫腙萃取光度法测定镉含量 | 现行 | 2008-09-01 |
| YS/T 509.2-2008 | 锂辉石、锂云母精矿化学分析方法 氧化铷、氧化铯量的测定 火焰原子吸收光谱法 | 现行 | 2008-09-01 |
| YS/T 676-2008 | 钼铝中间合金 | 现行 | 2008-09-01 |
| YS/T 675-2008 | 异丁钠黑药 | 现行 | 2008-09-01 |
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