SJ/T 11703-2018
现行
标准简介及适用范围
SJ/T 11703-2018《数字微电子器件封装的串扰特性测试方法》标准规定了数字微电子器件封装的串扰特性测试方法必须具备的国家强制标准，2018-04-01开始实施，起草单位为：中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、清华大学等。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| SJ/T 11704-2018 | 微电子封装的数字信号传输特性测试方法 | 现行 | 2018-04-01 |
| SJ/T 11708-2018 | 功率电机驱动器测试方法 | 现行 | 2018-04-01 |
| SJ/T 11699-2018 | IP核可测性设计指南 | 现行 | 2018-04-01 |
| SJ/T 10805-2018 | 半导体集成电路 电压比较器测试方法 | 现行 | 2018-04-01 |
| SJ/T 11701-2018 | 通用NAND型快闪存储器接口 | 现行 | 2018-04-01 |
| SJ/T 11698-2018 | 无铅焊锡化学分析方法 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2018-04-01 |
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