SJ/T 11706-2018
现行
标准简介及适用范围
SJ/T 11706-2018《半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法》标准规定了半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法必须具备的国家强制标准，2018-04-01开始实施，起草单位为：中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所等。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| SJ/T 11685-2017 | 平衡车用锂离子电池和电池组规范 | 现行 | 2018-01-01 |
| SJ/T 11688-2017 | 智能电视智能化技术评价方法 | 现行 | 2018-01-01 |
| SJ/T 11674.1-2017 | 信息技术服务 集成实施 第1部分：通用要求 | 现行 | 2018-01-01 |
| SJ/T 2406-2018 | 微波电路型号命名方法 | 现行 | 2018-04-01 |
| SJ/T 11699-2018 | IP核可测性设计指南 | 现行 | 2018-04-01 |
| SJ/T 11708-2018 | 功率电机驱动器测试方法 | 现行 | 2018-04-01 |
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