SJ/T 2658.4-2015
现行
标准简介及适用范围
SJ/T 2658.4-2015《半导体红外发射二极管测量方法 第4部分：总电容》标准规定了半导体红外发射二极管测量方法 第4部分：总电容必须具备的国家强制标准，2016-04-01开始实施，起草单位为：工业和信息化部电子工业标准化研究院。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| SJ/T 11435-2015 | 信息技术服务 服务管理 技术要求 | 现行 | 2016-04-01 |
| SJ/T 11541-2015 | 立体电视图像质量测试方法 | 现行 | 2016-04-01 |
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| SJ/T 2089-2015 | 电子测量仪器型号命名方法 | 现行 | 2016-04-01 |
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