SJ/T 2658.5-2015
现行
标准简介及适用范围
SJ/T 2658.5-2015《半导体红外发射二极管测量方法 第5部分：串联电阻》标准规定了半导体红外发射二极管测量方法 第5部分：串联电阻必须具备的国家强制标准，2016-04-01开始实施，起草单位为：工业和信息化部电子工业标准化研究院。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| SJ/T 11563-2015 | 网络化可信软件生产过程与环境 | 现行 | 2016-04-01 |
| SJ/T 2658.12-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第12部分：峰值发射波长和光谱辐射带宽 | 现行 | 2016-04-01 |
| SJ/T 11536.1-2015 | 高性能计算机 刀片服务器 第1部分：管理模块技术要求 | 现行 | 2016-04-01 |
| SJ/T 11011-2015 | 电子器件用纯银纤料中杂质含量铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测定方法 | 现行 | 2016-04-01 |
| SJ/T 11542-2015 | 立体投影机技术要求及测试方法 | 现行 | 2016-04-01 |
| SJ/T 11564.4-2015 | 信息技术服务 运行维护 第4部分：数据中心规范 | 现行 | 2016-04-01 |
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