SJ/T 2658.8-2015
现行
标准简介及适用范围
SJ/T 2658.8-2015《半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度》标准规定了半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度必须具备的国家强制标准，2016-04-01开始实施，起草单位为：工业和信息化部电子工业标准化研究院。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| SJ/T 11561-2015 | 软件构件运行环境规范 | 现行 | 2016-04-01 |
| SJ/T 11537-2015 | 高性能计算机 机群监控系统技术要求 | 现行 | 2016-04-01 |
| SJ/T 11028-2015 | 电子器件用金铜钎料的分析方法 EDTA容量法测定铜 | 现行 | 2016-04-01 |
| SJ/T 11553-2015 | 93%氧化铝真空电子用陶瓷 | 现行 | 2016-04-01 |
| SJ/T 11029-2015 | 电子器件用金镍纤料的分析方法 EDTA容量法测定镍 | 现行 | 2016-04-01 |
| SJ/T 11437-2015 | 信息技术 移动存储 便携式数字音视频播放器通用规范 | 现行 | 2016-04-01 |
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