SJ/T 11503-2015
现行
标准简介及适用范围
SJ/T 11503-2015《碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法》标准规定了碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法必须具备的国家强制标准，2015-10-01开始实施，起草单位为：中国电子科技集团公司第四十六研究所、北京天科合达蓝光半导体有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| SJ/T 11514-2015 | 印制电路用热固型导体浆料 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11521.1-2015 | 数字电视接收设备交互式平台 第1部分：系统架构 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11521.2-2015 | 数字电视接收设备交互式平台 第2部分：应用编程接口 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11460.6.1-2015 | 液晶显示用背光组件 第6-1部分: 测试方法 光学与光电参数 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11521.3-2015 | 数字电视接收设备交互式平台 第3部分：系统测试规范 | 现行 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11485-2015 | LED型号命名规则 | 现行 | 2015-10-01 |
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