SJ/T 10176-1991
现行
标准简介及适用范围
SJ/T 10176-1991《半导体集成电路金属菱形外壳详细规范》标准规定了半导体集成电路金属菱形外壳详细规范必须具备的国家强制标准，1991-12-01开始实施，起草单位为：。
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| SJ/T 10244-1991 | 微波介质材料金红石 | 现行 | 1991-12-01 |
| SJ/T 10171.7-1991 | 碱性蓄电池隔膜性能测试方法 隔膜吸碱率的测定 | 现行 | 1991-12-01 |
| SJ/T 10173-1991 | TDA75单晶硅太阳电池 | 现行 | 1991-12-01 |
| SJ/T 10171.2-1991 | 碱性蓄电池隔膜性能测试方法 隔膜定量的测定 | 现行 | 1991-12-01 |
| SJ/T 10171.5-1991 | 碱性蓄电池隔膜性能测试方法 隔膜面电阻的测定 | 现行 | 1991-12-01 |
| SJ/T 10219-1991 | 薄膜电阻器制造质量控制要点 | 现行 | 1991-12-01 |
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