GB/Z 119-2026
现行
标准号 GB/Z 119-2026
标准名称 晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测
英文名称 C-Si photovoltaic(PV) modules—Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test—Detection
发布日期 2026-01-04
实施日期
标准状态 现行
归口单位 全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会
主管单位 工业和信息化部（电子）
标准类别 方法
国际标准分类号 27.160
中国标准分类号 K83
起草单位 常熟阿特斯阳光电力科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、中国科学院微电子研究所、阿特斯阳光电力集团股份有限公司、隆基绿能科技股份有限公司、东方日升新能源股份有限公司、上海电气集团股份有限公司、浙江鉴衡检测技术有限公司
起草人 许涛 、庄天奇 、葛华云 、黄婷 、李振国 、裴会川 、郭素琴 、冯春暖 、刘亚锋 、徐敏伟 、陈磊
标准简介
GB/Z 119-2026《晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测》标准规定了晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测必须具备的国家强制标准，开始实施，起草单位为：常熟阿特斯阳光电力科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、中国科学院微电子研究所、阿特斯阳光电力集团股份有限公司、隆基绿能科技股份有限公司、东方日升新能源股份有限公司、上海电气集团股份有限公司、浙江鉴衡检测技术有限公司。
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