GB/Z 107-2025
现行
标准号 GB/Z 107-2025
标准名称 半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估
英文名称 Semiconductor devices—Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
发布日期 2025-12-03
实施日期
标准状态 现行
归口单位 全国半导体器件标准化技术委员会
主管单位 工业和信息化部（电子）
标准类别 方法
国际标准分类号 31.080.01
中国标准分类号 L40
起草单位 中国电子科技集团公司第五十八研究所、无锡中微腾芯电子有限公司、中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、北京智芯微电子科技有限公司、西安卫光科技有限公司、无锡市晶源微电子股份有限公司
起草人 万永康 、何静 、虞勇坚 、季伟伟 、宋国栋 、帅喆 、凌勇 、印琴 、张凯虹 、李锟 、贺致远 、李德建 、李飞 、常婷婷 、苏卡
标准简介
GB/Z 107-2025《半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估》标准规定了半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估必须具备的国家强制标准，开始实施，起草单位为：中国电子科技集团公司第五十八研究所、无锡中微腾芯电子有限公司、中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、北京智芯微电子科技有限公司、西安卫光科技有限公司、无锡市晶源微电子股份有限公司。
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