GB/T 19403.1-2003
现行
标准号 GB/T 19403.1-2003
标准名称 半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路）
英文名称 Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
发布日期 2003-11-24
实施日期 2004-08-01
标准状态 现行
归口单位 全国集成电路标准化技术委员会
主管单位 工业和信息化部（电子）
标准类别 产品
国际标准分类号 31.200
中国标准分类号 L56
起草单位 信息产业部第四研究所
起草人
标准简介
GB/T 19403.1-2003《半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路）》标准规定了半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路）必须具备的国家强制标准，2004-08-01开始实施，起草单位为：信息产业部第四研究所。
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被引用情况
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