GB/T 15651.3-2003
现行
标准号 GB/T 15651.3-2003
标准名称 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
英文名称 Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods
发布日期 2003-11-24
实施日期 2004-08-01
标准状态 现行
归口单位 全国半导体器件标准化技术委员会
主管单位 工业和信息化部（电子）
标准类别 方法
国际标准分类号 31.260
中国标准分类号 L50
起草单位 华禹光谷股份有限公司半导体厂
起草人
标准简介
GB/T 15651.3-2003《半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法》标准规定了半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法必须具备的国家强制标准，2004-08-01开始实施，起草单位为：华禹光谷股份有限公司半导体厂。
相关标准
本标准相关标准：
-
GB/T 15651-1995 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件 GB/T 15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性 20201543-T-339 半导体分立器件 第15部分：绝缘功率半导体器件 GB/T 17573-1998 半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则 GB/T 15651.4-2017 半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器 GB/T 4023-2015 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件 20231205-T-339 半导体器件 第5-11部分：光电子器件 发光二极管 辐射和非辐射电流的测试方法 20232773-T-339 半导体分立器件 第2部分：整流二极管
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| GB/T 19333.5-2003 | 地理信息 一致性与测试 | 现行 | 2004-06-01 |
| GB/T 19391-2003 | 全球定位系统（GPS）术语及定义 | 现行 | 2004-06-01 |
| GB/T 7920.5-2003 | 土方机械 压路机和回填压实机 术语和商业规格 | 现行 | 2004-06-01 |
| GB/T 18311.1-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-1部分:检查和测量 外观检查 | 现行 | 2004-08-01 |
| GB/T 18311.34-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-34部分:检查和测量 随机配接连接器的衰减 | 现行 | 2004-08-01 |
| GB/T 18311.40-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-40部分:检查和测量 带保偏光纤尾纤连接器的消光比 | 现行 | 2004-08-01 |
用户评价
暂无用户评价。您可以发表对本标准的看法：
专家解读