GB/T 11685-2003
现行
标准号 GB/T 11685-2003
标准名称 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
英文名称 Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers
发布日期 2003-07-07
实施日期 2004-01-01
标准状态 现行
归口单位 全国核仪器仪表标准化技术委员会
主管单位 国家标准委
标准类别 方法
国际标准分类号 27.120.01
中国标准分类号 F80
起草单位 核工业标准化研究所
起草人
标准简介
GB/T 11685-2003《半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法》标准规定了半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法必须具备的国家强制标准，2004-01-01开始实施，起草单位为：核工业标准化研究所。
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