GB/T 14031-1992
现行
标准简介
GB/T 14031-1992《半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理》标准规定了半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理必须具备的国家强制标准，1993-08-01开始实施，起草单位为：上海元件五厂。
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被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| GB/T 14030-1992 | 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 | 现行 | 1993-08-01 |
| GB/T 14029-1992 | 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理 | 现行 | 1993-08-01 |
| GB/T 13999-1992 | 35mm电影拷贝上光学双声迹的位置和宽度尺寸 | 现行 | 1993-08-01 |
| GB/T 14032-1992 | 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理 | 现行 | 1993-08-01 |
| GB/T 14011-1992 | 阴极射线管X射线辐射测试方法 | 现行 | 1993-06-09 |
| GB/T 13975-1992 | 直流放大器特性和测试方法 | 现行 | 1993-07-01 |
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