GB/T 5594.1-1985
现行
标准简介
GB/T 5594.1-1985《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法》标准规定了电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法必须具备的国家强制标准，1986-12-01开始实施，起草单位为：电子部12所。
相关标准
本标准相关标准：
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GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法 GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分：化学稳定性测试方法 GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法 GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法 GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法 GB/T 5594.7-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分：透液性测定方法 GB/T 11320-1989 压电陶瓷材料性能测试方法 低机械品质因数压电陶瓷材料性能的测试 CB/T 3794-2014 压电陶瓷材料性能测试方法 电极结合强度的测试 GB/T 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| GB/T 5279-1985 | 沉头螺钉 头部形状和测量 | 现行 | 1986-06-01 |
| GB/T 5278-1985 | 紧固件 开口销孔和金属丝孔 | 现行 | 1986-06-01 |
| GB/T 5277-1985 | 紧固件 螺栓和螺钉通孔 | 现行 | 1986-06-01 |
| GB/T 5594.2-1985 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法 | 现行 | 1986-12-01 |
| GB/T 5594.5-1985 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 | 现行 | 1986-12-01 |
| GB/T 5730-1985 | 电子设备用固定电阻器 第二部分:分规范 低功率非线绕固定电阻器 （可供认证用） | 现行 | 1986-09-01 |
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