GB/T 22572-2008
现行
标准号 GB/T 22572-2008
标准名称 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
英文名称 Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
发布日期 2008-12-11
实施日期 2009-10-01
标准状态 现行
归口单位 全国表面化学分析标准化技术委员会
主管单位 中国科学院
标准类别 方法
国际标准分类号 71.040.40
中国标准分类号 G04
起草单位 信息产业部专用材料质量监督检验中心
起草人 马农农 、何友琴 、何秀坤
标准简介
GB/T 22572-2008《表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法》标准规定了表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法必须具备的国家强制标准，2009-10-01开始实施，起草单位为：信息产业部专用材料质量监督检验中心。
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