GB/T 22319.8-2008
现行
标准号 GB/T 22319.8-2008
标准名称 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具
英文名称 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units
发布日期 2008-08-06
实施日期 2009-01-01
标准状态 现行
归口单位 全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
主管单位 工业和信息化部（电子）
标准类别 方法
国际标准分类号 31.140
中国标准分类号 L21
起草单位 中国电子元件行业协会压电晶体分会
起草人 章怡 、姜连生
标准简介
GB/T 22319.8-2008《石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具》标准规定了石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具必须具备的国家强制标准，2009-01-01开始实施，起草单位为：中国电子元件行业协会压电晶体分会。
相关标准
本标准相关标准：
-
GB/T 22319.8-2025 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具 SJ/T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算 GB/T 22319.9-2018 石英晶体元件参数的测量 第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量 GB/T 22319.7-2015 石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量 SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量 SJ/T 11211-1999 石英晶体元件参数的测量 第5部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法 GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量 20214732-T-339 有质量评定的石英晶体元件 第6部分 有热敏电阻的晶体元件 20233710-T-339 有质量评定的石英晶体元件 第1部分：总规范 SJ/T 10639-1995 石英晶体元件术语
被引用情况
| 标准号 | 标准名称 | 标准状态 | 实施日期 |
|---|---|---|---|
| GB/T 16991-2008 | 纺织品 色牢度试验 高温耐人造光色牢度及抗老化性能 氙弧 | 现行 | 2009-06-01 |
| GB/T 1798-2008 | 生丝试验方法 | 现行 | 2009-06-01 |
| GB/T 6345.4-2008 | 信息技术 汉字编码字符集（基本集） 32点阵字型 第4部分：仿宋体 | 现行 | 2009-07-01 |
| GB/T 3920-2008 | 纺织品 色牢度试验 耐摩擦色牢度 | 现行 | 2009-06-01 |
| GB/T 4669-2008 | 纺织品 机织物 单位长度质量和单位面积质量的测定 | 现行 | 2009-06-01 |
| GB/T 7497.3-2008 | 微处理器系统总线 8位及16位数据（MULTIBUS I） 第3部分：对带有插针与插座连接器（间接配合）的欧洲板配置的机械与插针的描述 | 现行 | 2009-01-01 |
用户评价
暂无用户评价。您可以发表对本标准的看法：
专家解读